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网站首页 ∷ 服务及支持 ∷ 晶圆测试
  • STS8200B测试仪

    STS8200B测试仪

    晶圆测试

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  • 3380P测试仪

    3380P测试仪

    晶圆测试

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  • 50/100 MHz測試頻率

  • 50/100 Mbps數據速率

  • 512數字通道管腳
    (最高可至 576數字通道管腳)

  • 並行測試可達 512 sites 同測數

  • 32/64/128M Pattern 記憶體

  • 多樣彈性 VI 電源

  • 彈性化硬體結構 (可互換式 I/O, VI, ADDA)

  • Real parallel Trim/Match 功能

  • 時序頻率測試單位 (TFMU)

  • AD/DA 功能板卡 (16/24 bits) (可選配)

  • SCAN向量存儲深度(最高 2G bits/chain) (可選配)

  • ALPG 測試選配供記憶體 IC用

  • STDF 工具支援

  • 測試程式/pattern 轉換器 (J750, D10, V50,E320, SC312, V7, TRI-6020, ITS9K)

  • 人性化 Window 7 操作系統

  • CRAFT C/C++ 程式語言

  • 軟件介面與 3380P/3360P 相同

  • Direct mount 治具可相容於3360P probe-card

  • Cable mount 治具可相容於3360D與3360P


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  • TR-6850

    TR-6850

    晶圆测试

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  • TR-6836

    TR-6836

    晶圆测试

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  • P12XL

    P12XL

    晶圆测试

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    l日本TEL生产
    l测试8”~12”晶圆
     l精度高（300mm内精确度为±2um）
    l自动化程度高，配备先进的CCD图形扫描技术，机器自动上下片 

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  • UF200SA

    UF200SA

    晶圆测试

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    设备介绍
    3380P测试仪
    l最大数据传输率：100MHz
    l最大I/OPIN：512通道
    l同测数：可最大512DUT并行测试
    l测量向量深度：32M/64M/128M
    STS8200B测试仪
    l最大数据传输率5MHz
    l数模混合测试仪，模拟电压最大可支持-1000V~+1000V
    l可最大16/32DUT并行测试
    l可扩展性高，覆盖面广，可提供模拟，线性，电源管理类，音频，模拟开关
    TR6850测试仪
    l最大数据传输率33MHz,分辨率3.3ns
    l数模混合测试仪，模拟电压最大可支持-45V~+100V
    l最大I/OPIN：256通道
    l每个通道可以单独设置输入电平（VIH/VIL）
    l每个通道可以单独设置比较电平（VOH/VOL）  
    l 每个通道均可单独设置时钟调制模式。
    l每个通道均可单独设置TG
    l每个通道均可进行时间参数测量
    l可最大8DUT同时并行测试
    l测量向量深度最大8M
    TR6836测试仪
    l最大数据传输率33MHz,分辨率3.3ns
    l最大I/OPIN：384通道
    l每个通道可以单独设置输入电平（VIH/VIL）
    l每个通道可以单独设置比较电平（VOH/VOL）  
    l 每个通道均可单独设置时钟调制模式。
    l每个通道均可单独设置TG
    l每个通道均可进行时间参数测量
    l可最大8DUT同时并行测试
    l测量向量深度最大8M
    P12XL探针台
    l日本TEL生产
    l测试8”~12”晶圆
    l精度高（300mm内精确度为±2um）

    l自动化程度高，配备先进的CCD图形扫描技术，

     机器自动上下片

    l稳定性好

    UF200SA探针台
    l日本TSK生产
    l测试5”~8”晶圆
    l精度高（200mm内精确度为±2um）

    l自动化程度高，配备先进的CCD图形扫描技术，机器自动上下片

    l稳定性好
    Baidu
    sogou